高低溫試驗箱的試（shì）驗方法與標準如何進（jìn）行選擇

               高（gāo）低溫試驗箱的試驗方（fāng）法與標準如何進行選擇   
   高低溫試驗箱通常被用來做（zuò）高溫試（shì）驗、低溫試驗以及高低溫試驗的組合，其各種試驗的試驗方法（fǎ）與標準選擇一般以以下為準：

   高溫和低溫試驗是zui常見的一種環境試驗項目。低溫試驗（yàn）對產品產生的（de）影響主要使材料變成（chéng）脆硬性（xìng），致使破損開（kāi）裂，強度降低，潤滑（huá）作用減小，電子元器件性能引起變化（huà）等。高溫（wēn）試驗（yàn）對產品（pǐn）的影響主要表現在改變（biàn）材料的物理性能和尺寸，不同的材料（liào）膨脹（zhàng）不一（yī）致使零（líng）件粘結（jié），潤滑劑外流使潤滑能力損（sǔn）失，電器元件過熱損壞，電子電（diàn）路穩定性（xìng）改變等。如對帶有塑膠件（jiàn）的產品這（zhè）二（èr）項試驗就很能夠暴（bào）露問題。

    高（gāo）溫和低溫（wēn）試驗試驗一（yī）般安排（pái）在一（yī）套試驗的早期，且為相信順序，這樣既（jì）能夠考核等高溫對的耐高（gāo）溫和低（dī）溫能力（lì）也能夠達（dá）到耐溫（wēn）變試驗的效果（guǒ）。高溫和低溫試驗依據國標GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗 第（dì）2部分（fèn）：試驗（yàn）方法A：低溫試驗方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗第（dì）2部分：試驗方法B：高溫試驗方法》。有散熱（rè）樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸（jiàn）變所做的規定來選擇（zé），分為高溫工作和低溫工作試驗（yàn）、高溫存儲和低溫存儲試驗，據實際樣品所屬是否散熱（rè）用工（gōng）作和存儲兩（liǎng）種不同溫度點和產品狀態來進行合適的考量。高溫和低溫工作（zuò）試驗（yàn）的溫度（dù）嚴酷度一般低於存儲類溫度5～10℃。在實際檢（jiǎn）測中*行工作試驗考核（hé）後再做關機狀態下存儲試驗，對於部分大電流、高發熱的電器產品，其高溫工作試驗可以代替高溫存儲試驗，因為其工作時溫度已經超（chāo）出其存儲溫度極限，故隻（zhī）需進行高（gāo）溫工作試驗即可（kě）。常見的高溫工作（zuò）試驗溫度有（yǒu）：40℃、50℃，高（gāo）溫存儲試驗溫度有：50℃、55℃，低溫工作試驗（yàn）有：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲試驗溫（wēn）度有（yǒu）：-20℃、-40℃，工作試驗時間2h～4h～8h，存（cún）儲試驗8h～16h～24h。通常高溫和低溫試（shì）驗能夠暴露出產品的缺陷如：外殼變形，電性能故障不能正常（cháng）運行等，從而達到整改的目的。如產品高溫可靠性試驗也是高溫工作試驗一種。

    高低溫組合（hé）也是覺的試驗項目(推薦使（shǐ）用可程式高低溫試驗箱（xiāng）)，多用來更嚴酷地考核產品內外結構性能和電性能。

a)溫度衝擊試驗-溫度突變Na是目前常（cháng）用來考核元器件和材料（liào）一種試驗。高低溫衝擊試（shì）驗是通過快速溫變來達到考核產品的目（mù）的（de），因為屬於非（fēi）工作狀態高低溫衝擊試驗的指標上、下限多采（cǎi）用高、低溫存儲試驗的上、下限，可參照（zhào）試驗樣品在高、低溫存儲試驗中獲得的的溫度響（xiǎng）應特性等信息。    b)溫度變化試驗（yàn）-溫度漸變Nb常用來考核整機試驗。在試驗（yàn）中產品按要求可處於工作（zuò）狀態，因（yīn）此溫度變（biàn）化試驗的上、下限往（wǎng）往使用（yòng）高、低溫工作試驗的（de）上、下限。這二項試驗參照的（de）標準有GB/T 2423.22-2002《電工電子產品（pǐn）環境試驗（yàn） 第（dì）2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》等，根據實際要求（qiú）選擇高溫點（diǎn）和低溫點，滯留時間，溫變速率，循環次（cì）數定試驗等級。