環境檢測設備測試項目及相關標準

環境檢（jiǎn）測設備測試項目及相（xiàng）關標準

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環境檢測設備測試項目及相關標準

1、  低溫試驗 按GB/T2423.1—89《電工（gōng）電子產品環境試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》；

GB/T2423.22—87《電工電子（zǐ）產品環境試驗第二（èr）部（bù）分：試驗方法溫度變化試驗方法》 進行低（dī）溫試驗及溫度變（biàn）化（huà）試驗。溫度範圍：-70℃～10℃。

2、  高溫試（shì）驗 按GB/T2423.2—89《電工（gōng）電子產品環境試驗第（dì）二部分：試驗方法高溫試驗》；

GB/T2423.22—87《電工電子產品環境試驗第二（èr）部分（fèn）：試驗方法（fǎ）溫度變化試驗方法》 進行高溫試驗及溫度變化試驗。溫度範圍：10℃～210℃

3、  濕熱試驗 按GB/T2423.3—93《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；

GB/T2423.4—93《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗方（fāng）法交變濕熱試驗》 進行恒定濕（shī）熱（rè）試驗及交變濕熱試驗。濕（shī）度範圍：30%RH～100%RH

4、黴菌試（shì）驗

按GB/T2423.16—90《電工電子產品環境（jìng）試驗第（dì）二部分：試驗（yàn）方法長黴試驗》進行黴菌試驗。

5、鹽霧試驗 按GB/T2423.17—93《電工電子產品（pǐn）環境試（shì）驗第二部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。

6、低氣壓試驗 按GB/T2423.21—92《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗方法低氣壓試驗》； GB/T2423.25—92《電（diàn）工電子（zǐ）產品環境試驗第二部分：試驗方（fāng）法低溫（wēn）/低氣壓試驗》；

GB/T2423.26—92《電工（gōng）電子產品環境試驗第二部分：試驗方法高溫/低氣壓（yā）試驗》； 進（jìn）行低氣壓試（shì）驗，高、低溫/低氣壓試（shì）驗。試驗範圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。

7、振（zhèn）動試驗 按（àn）GB/T2423.10—95《電工電子（zǐ）產品環境試（shì）驗第二部分：試驗（yàn）方法振動試（shì）驗》進行振動試驗（yàn）。頻（pín）率範圍（機械（xiè）振動台）：5～60Hz（定頻振（zhèn）動5～80Hz），zui大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率範圍（電磁振動台）：5～3000Hz，zui大位移25mmP-P。

8、衝擊試驗 按GB/T2423.5—95《電工電子產品環境試驗（yàn）第二部分：試（shì）驗方法衝擊試驗》進行衝擊試（shì）驗。衝擊加速度範圍：（50～1500）m/s2。

9、碰撞（zhuàng）試驗 按GB/T2423.6—95《電工電子產品環境試驗（yàn）第（dì）二部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。

10、跌落試驗 按GB/T2423.7—95《電工電（diàn）子（zǐ）產品環境試（shì）驗第二部分：試驗（yàn）方法傾（qīng）跌與翻到試驗》； GB/T2423.8—95《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗方法自由跌落試（shì）驗》進行（háng）跌落試驗。

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